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<li>Solartron Schlumberger [[7060]] DMM에서
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<li> [[멤브레인 스위치]]
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image:7060a01_032.jpg | 저항측정을 위한 [[잉크R]] 테스트 패턴 [[TEG]]
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<li>PCB 동박패턴으로
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<li>반도체 노광 패턴으로
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<li> 모바일게임기 [[Zodiac2]] LCD 패널에서
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<li>공정별 얼라인 체크-1
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<li>공정별 얼라인 체크-2
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<li>전기적 특성 체크
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image:zodiac2_024_008.jpg | 4단자 측정
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<li>기타
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image:zodiac2_024_009.jpg | 레이어별 공정 진행
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image:zodiac2_024_010.jpg | 얼라인 키
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<li>회로
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image:zodiac2_024_012.jpg | DDI 본딩된 곳
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image:zodiac2_024_011.jpg | LCD 가장자리
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<li>라인어스, Electrophoretic Display(EPD) 방식 에서
 
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<li> Tektronix [[TDS460A]] 오실로스코프에서
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<li>MAXIM, Tek Part No. 155-0378-01
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image:tds460a01_081.jpg | 다이 왼쪽에서 면적의 약 10%차지하고 있음
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[[van der Pauw]] 패턴image:tds460a01_085.jpg
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<li> [[Tektronix TDS540]] 오실로스코프에서
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<li>flash 방식 [[ADC]] 다이
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image:tds540_05_023.jpg | M606A Tek, 8-bit 분해능을 갖기 때문에 256개 voltage comparator가 있다.
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image:tds540_05_027.jpg | [[TEG]]
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<li>2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 [[SM-A710S]]에서
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image:a710s01_061.jpg | 여러 개 [[TEG]] 중 하나
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<li>SAW 필터에서 [[SAW대문]]
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<li>2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 [[SM-A710S]]
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image:a710s01_076_010.jpg | [[TEG]] 막대기 폭 1.5um, 우하단: 1차전극 2차전극 정렬도 검사 패턴
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2021년 3월 10일 (수) 15:37 판

TEG; Test Element Group

  1. 전자부품
    1. TEG - 이 페이지
  2. 인쇄패턴으로
    1. Solartron Schlumberger 7060 DMM에서
      1. 멤브레인 스위치
  3. PCB 동박패턴으로
  4. 반도체 노광 패턴으로
    1. 모바일게임기 Zodiac2 LCD 패널에서
      1. 위치
      2. TEG
        1. 3가지
        2. 공정별 얼라인 체크-1
        3. 공정별 얼라인 체크-2
        4. 전기적 특성 체크
      3. 기타
      4. 회로
    2. 라인어스, Electrophoretic Display(EPD) 방식 에서
    3. Tektronix TDS460A 오실로스코프에서
      1. MAXIM, Tek Part No. 155-0378-01
    4. Tektronix TDS540 오실로스코프에서
      1. flash 방식 ADC 다이
    5. 2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 SM-A710S에서
    6. SAW 필터에서 SAW대문
      1. 2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 SM-A710S