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Advantest R6243 소스미터 측정에서 발진 문제 - 편집 역사
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Togotech: 새 문서: Advantest R6243 소스미터 측정에서 발진 문제 <ol> <li> 전자부품 <ol> <li>전자부품#측정기 <ol> <li> 소스미터 <ol> <li> Advantest R6243 <ol> <l...
2025-01-09T04:53:11Z
<p>새 문서: Advantest R6243 소스미터 측정에서 발진 문제 <ol> <li> <a href="/index.php/%EC%A0%84%EC%9E%90%EB%B6%80%ED%92%88" title="전자부품" data-bs-title="전자부품">전자부품</a> <ol> <li><a href="/index.php/%EC%A0%84%EC%9E%90%EB%B6%80%ED%92%88#.EC.B8.A1.EC.A0.95.EA.B8.B0" title="전자부품" data-bs-title="전자부품">전자부품#측정기</a> <ol> <li> <a href="/index.php/%EC%86%8C%EC%8A%A4%EB%AF%B8%ED%84%B0" title="소스미터" data-bs-title="소스미터">소스미터</a> <ol> <li> <a href="/index.php/Advantest_R6243" class="mw-redirect" title="Advantest R6243" data-bs-title="Advantest_R6243">Advantest R6243</a> <ol> <l...</p>
<p><b>새 문서</b></p><div>Advantest R6243 소스미터 측정에서 발진 문제<br />
<ol><br />
<li> [[전자부품]]<br />
<ol><br />
<li>[[전자부품#측정기]]<br />
<ol><br />
<li> [[소스미터]]<br />
<ol><br />
<li> [[Advantest R6243]]<br />
<ol><br />
<li> [[Advantest R6243 소스미터 측정에서 발진 문제]] - 이 페이지<br />
</ol><br />
</ol><br />
</ol><br />
</ol><br />
<li>알람 항목에 OSC 가 있다.<br />
<ol><br />
<li>Oscillation detection 이 될 때, 표시창에 OSC가 나타나고 알람 울린다.<br />
</ol><br />
<li>측정에서 Oscillation 현상<br />
<ol><br />
<li>DUT에서 발진이 일어나거나, 계측기 자체에서 일어날 수 있다.<br />
<ol><br />
<li>계측기 자체 발진 주파수는 2MHz를 넘지 않는다.<br />
</ol><br />
<li>발진이 일어나는 이유<br />
<ol><br />
<li>전압 소스, 전류 측정에서는 capacitive load에서 일어난다.<br />
<li>전류 소스, 전압 측정에서는 inductive load에서 일어난다.<br />
</ol><br />
<li>발진이 발생되면 측정이 안된다. 발진 원인을 제거하려면<br />
<ol><br />
<li>설명<br />
<ol><br />
<li>사양에 표시된 최대 부하 용량 및 최대 부하 인덕턴스 내에 있는지 확인하십시오.<br />
<li>가장 짧은 테스트 리드선을 사용하여 발진을 확인한다.<br />
<li>가장 짧은 테스트 리드선을 사용한 측정임에도 불구하고 발진이 일어나면, 매뉴얼의 그림 4-4처럼, 테스트 리드선 때문에 발생되는 부유 용량 및 리드 인덕턴스를 줄인다.<br />
</ol><br />
<li>그림 4-4<br />
<ol><br />
<li>부유용량 및 누설전류를 줄이기 위해 driving guard 단자를 사용한다.<br />
<gallery><br />
image:r6243_00_001_001.png<br />
</gallery><br />
<li>테스트 리드선이 갖는 인덕턴스를 줄이기 위해서<br />
<gallery><br />
image:r6243_00_001_002.png<br />
</gallery><br />
<li>테스트 리드선으로 동축 케이블을 사용하는 경우에 인덕턴스를 줄이기 위해서<br />
<gallery><br />
image:r6243_00_001_003.png<br />
</gallery><br />
</ol><br />
<li>그림 4-5, DUT 발진 방지법<br />
<ol><br />
<li>고이득 Tr 및 높은 transconductance(gm) FET 게이트를 갖는 DUT에서 자주 발진이 발생된다.<br />
<ol><br />
<li>[[페라이트 비드]]를 삽입한다.<br />
<li>Tr의 베이스 및 FET의 게이트에 삽입하는 것이 효과적이다.<br />
<li>누설을 줄이기 위해서는 페라이트 비드가 어디에 닿으면 안된다.(허공에 띄운다.)<br />
</ol><br />
<li>고주파용 GaAs FET인 경우에는<br />
<ol><br />
<li>게이드 소스와 드레인 소스의 접지라인을 분리한다.<br />
<li>게이트와 드레인에 각각 바이페스 C와 페라이트 비드를 삽입한다. 그러면 고주파 성분이 전원 소스로 넘어가지 않는다.<br />
<li>게이트와 드레인에 매칭 저항을 넣고, lambda/4 길이를 갖는 패턴을 삽입하여 매칭한다.<br />
</ol><br />
<li>그림<br />
<gallery><br />
image:r6243_00_001_004.png<br />
</gallery><br />
</ol><br />
<li>그림 4-6, 계측기 자체 발진 방지법<br />
<ol><br />
<li>가장 짧은 테스트 리드선을 사용한 측정임에도 불구하고 발진이 일어나면, 아래 그림처럼 허용할 수 있는 값을 갖는 저항을 직렬로 삽입한다.<br />
<gallery><br />
image:r6243_00_001_005.png<br />
</gallery><br />
</ol><br />
</ol><br />
</ol><br />
<li>2024/01/09<br />
<ol><br />
<li> [[네온등]]을 i-v 커브를 그려보면<br />
<ol><br />
<li>'''소스 전류가 1uA 이상 흐르면 계측기에서 oscillation 현상이 검출되어 측정이 중단된다.'''<br />
<li>측정 그래프<br />
<gallery><br />
image:neon01_004.png<br />
</gallery><br />
<li>측정 방법이 전류 소스이므로, 발진의 이유가 인덕티브 로드 때문이다. 그러므로 전압 소스로 변경해서 측정해보자.<br />
<li>안되면 테스트 리드를 매우 짧게하여 측정해보자.<br />
</ol><br />
</ol><br />
</ol></div>
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