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Cascade - 편집 역사
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Togotech: 새 문서: Cascade <ol> <li> 전자부품 <ol> <li> 프루버 <ol> <li> 프루브카드 <ol> <li> Cascade - 이 페이지 <ol> <li> <li> Cascade ACP <li> ISS </ol> </ol>...
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<p>새 문서: Cascade <ol> <li> <a href="/index.php/%EC%A0%84%EC%9E%90%EB%B6%80%ED%92%88" title="전자부품" data-bs-title="전자부품">전자부품</a> <ol> <li> <a href="/index.php/%ED%94%84%EB%A3%A8%EB%B2%84" title="프루버" data-bs-title="프루버">프루버</a> <ol> <li> <a href="/index.php/%ED%94%84%EB%A3%A8%EB%B8%8C%EC%B9%B4%EB%93%9C" title="프루브카드" data-bs-title="프루브카드">프루브카드</a> <ol> <li> <a href="/index.php/Cascade" title="Cascade" data-bs-title="Cascade">Cascade</a> - 이 페이지 <ol> <li> <li> <a href="/index.php/Cascade_ACP" title="Cascade ACP" data-bs-title="Cascade_ACP">Cascade ACP</a> <li> <a href="/index.php/ISS" title="ISS" data-bs-title="ISS">ISS</a> </ol> </ol>...</p>
<p><b>새 문서</b></p><div>Cascade<br />
<ol><br />
<li> [[전자부품]]<br />
<ol><br />
<li> [[프루버]]<br />
<ol><br />
<li> [[프루브카드]]<br />
<ol><br />
<li> [[Cascade]] - 이 페이지<br />
<ol><br />
<li> <br />
<li> [[Cascade ACP]]<br />
<li> [[ISS]]<br />
</ol><br />
</ol><br />
</ol><br />
<li>참고<br />
<ol><br />
<li> [[네트워크분석기 기술자료]]<br />
</ol><br />
</ol><br />
<li>Cascade = Cascade Microtech = FormFactor<br />
<ol><br />
<li>회사<br />
<ol><br />
<li>위키페디아 <br />
<ol><br />
<li>1982년 Cascade Microtech 설립<br />
<li>2010년 1월 SUSS MicroTec AG의 칩 테스트 부서를 인수<br />
<li>2016년 2월에 FormFactor 회사는 Cascade Microtech을 3억 5200만달러로 인수함.<br />
</ol><br />
</ol><br />
<li>RF 프루브 기술<br />
<ol><br />
<li>Cascade<br />
<ol><br />
<li>캘리브레이션<br />
<ol><br />
<li>Advanced RF Calibration Techniques - 30p<br />
</ol><br />
<li>임피던스 측정 방법<br />
<ol><br />
<li>Accurate Impedance Measurement with Cascade Microtech Probe System, 2001/07/31 - 12p<br />
</ol><br />
<li>1986년, HP & Cascade, HP 문서번호 5954-8351 - 27p<br />
<li>A guide to Successful on Wafer Rf characterisation - 57p<br />
<li>Wafer-Level Calibration & Verification up to 750 GHz - 44p<br />
<li>On Wafer Calibration Techniques ... - 233p<br />
<li>(코넬 대학교?) Cascade Summit 9600 probe station에서 RF 프루브 사용법 - 36p<br />
<li>Design Considerations for Parametric-RF Probing in Production Test Environments - 20p<br />
<ol><br />
<li> <br />
</ol><br />
</ol><br />
<li>PacketMicro<br />
<ol><br />
<li>RF Probing With Anritsu ShockLine VNA - 47p<br />
<li>RF Probing With Rohde & Schwarz ZNB VNA - 55p<br />
</ol><br />
</ol><br />
<li>프루브 카탈로그<br />
<ol><br />
<li>2022 프루브 선택 가이드 - 50p<br />
<li>2010 프루브 선택 가이드 - 26p<br />
</ol><br />
</ol><br />
</ol></div>
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