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image:compaq_nx6320_094_003.png | 약 5.7pF, DC 1kV 인가하면 C값이 0.5% 감소함. | image:compaq_nx6320_094_003.png | 약 5.7pF, DC 1kV 인가하면 C값이 0.5% 감소함. | ||
| − | image:compaq_nx6320_094_004.png | 50kHz에서 | + | image:compaq_nx6320_094_004.png | 50kHz에서 560kΩ 임피던스를 보인다. 형광등 전류제한 |
image:compaq_nx6320_094_005.png | DC 1kV까지 단자간 저항 | image:compaq_nx6320_094_005.png | DC 1kV까지 단자간 저항 | ||
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image:compaq_nx6320_094_007.jpg | PCB만 | image:compaq_nx6320_094_007.jpg | PCB만 | ||
image:compaq_nx6320_094_008.png | 결합상태에서, MLCC만 1/2차, PCB만 1/2차 측정 | image:compaq_nx6320_094_008.png | 결합상태에서, MLCC만 1/2차, PCB만 1/2차 측정 | ||
| − | image:compaq_nx6320_094_009.png | MLCC 만, 첫측정을 하면 표면 오염물질이 제거되어, 두번째는 일정하게 측정된다. | + | image:compaq_nx6320_094_009.png | [[MLCC]] 만, 첫측정을 하면 표면 오염물질이 제거되어, 두번째는 일정하게 측정된다. |
image:compaq_nx6320_094_010.png | PCB 만, 첫측정을 하면 표면 오염물질이 제거되어, 두번째는 일정하게 측정된다. | image:compaq_nx6320_094_010.png | PCB 만, 첫측정을 하면 표면 오염물질이 제거되어, 두번째는 일정하게 측정된다. | ||
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2025년 2월 4일 (화) 20:11 기준 최신판
절연저항
- 전자부품
- 절연저항 측정
- 2017/03/06 로스팅된 커피 원두의 절연저항 측정
로스팅된 원두는 전기가 통하지 않는다.
- MLCC - 병렬연결품에서
- 병렬 상태에서 절연저항 측정, 엑셀 파일
744V에서 어느 하나가 short 불량을 일으켰다.
- 개별로 다시 측정함.
104, 100nF 5개 병렬
- 병렬 상태에서 절연저항 측정, 엑셀 파일
- 칩 부품을 SMT하면
- MLCC 측정 엑셀 파일
- 1차 측정
측정 방법
약 5.7pF, DC 1kV 인가하면 C값이 0.5% 감소함.
50kHz에서 560kΩ 임피던스를 보인다. 형광등 전류제한
DC 1kV까지 단자간 저항
- 2차 측정, PCB 에서 전위 경로가 매우 길어도 5x10^13, MLCC는 경로가 짧아도 3x10^14 이다.
(표면 청소후)MLCC만
PCB만
결합상태에서, MLCC만 1/2차, PCB만 1/2차 측정
MLCC 만, 첫측정을 하면 표면 오염물질이 제거되어, 두번째는 일정하게 측정된다.
PCB 만, 첫측정을 하면 표면 오염물질이 제거되어, 두번째는 일정하게 측정된다.
- 1차 측정
- MLCC 측정 엑셀 파일
- 에나멜 피복
- 2017/03/06 로스팅된 커피 원두의 절연저항 측정
