가드링

전자부품
1. OP앰프
  1. 가드링 - 이 페이지
    1. 트라이액샬 triaxial 케이블
    2. 허공 전선
    3. 홈을 판 PCB
    4. 테프론 스탠드오프
2. 절연저항
3. 참조
Guard Ring 설명
1. 위키페디아 https://en.wikipedia.org/wiki/Driven_guard
  1. 누설을 막아 절연저항을 높이기 위한 또 다른 방법으로
부유 정전용량 제거용 가드(guard), Guarding technique to remove stray capacitances
1. 터치센서용 전극
  - 하양 페인트칠 밑에 3개 전극이 있다.
  - Guarding technique to remove stray capacitances
2. 발진기에서
  1. 마치 가드링 설계 방법을 적용한, 평면 EMI 차폐용 접지 또는 부유 정전용량 제거용
    1. 2.5인치HDD, Hitachi, IC25N080ATMR04-0, 4200rpm, 80GB, ATA/IDE, 2003-04-28 제조품에서
    2. HP 54520A 500MHz 오실로스코프, 메인보드의 몰딩 패키지 수정 공진기에서
      - 32.768K 매칭방법, 넓은 동박을 제거하고, 테두리 가드링을 만듬
영역 전체를 접지 동박으로
1. PCI-20428W-1A 다기능카드에서
  - 뒷면. 화살표
앰프가 없는 곳, HP회사의 비표준 SMPS에서 발견된
1. HP 8714C 네트워크분석기
2. HP E5060A B-H Z Analyzer, EMI 차폐된 SMPS에서
  - 뒷면
  - 앞면
다이오드기반 온도센서 AD592AN, 2-terminal Precision IC Temperature Transducer
1. HP E5060A B-H Z Analyzer에서
  - LM393 dual op amp. 온도센서 출력 1uA/K를 100배 높이기 위해 사용하는 듯.
  - 흐르는 전류가 1uA/K 로 낮아 가드링을 적용함.
마치 가드링을 적용한 듯하다.(적용했다.)
1. HP E5060A B-H Z Analyzer , GPU에서
  - GSP TMS34010FNL-50, Application Specialized Graphics System Processor
  - 마치 가드링을 적용했다(한 듯하다.)
발견
1. Sartorius WZA224-L 저울 셀
  - 대부분의 아날로그 IC에 가드링을 적용했다.
  - Sn-HAL HAL;열풍 레벨링, ETON ET856
2. Advantest TR6143 소스미터
  1. 마더보드, 아래면, 입력포트 연결부위
  2. 아날로그 보드에서
3. HP 8904A 신호합성기에서
  - OP Amp 와 가드링
4. HP 54620A 로직분석기
  - ACT04 6 inverter, AD7225LP 8-bit DAC
5. Keithley 220 전류소스에서
6. 16440A SMU/Pulse Generator Selector에서
  - 가드링
7. HP 16118A Tweezer Test Fixture
  - Triaxial 케이블이 납땜되는 부위에 가드링이 형성되어 있다.
8. DMM
  1. HP 3458A DMM
    - guard ring
  2. Agilent 34972A LXI Data Acquisition+Switch Unit
  3. Agilent 34970A Data Acquisition+Switch Unit
  4. Solartron Schlumberger 7060 시스템 전압계에서
  5. Keithley 195A DMM
    1. 부품면
      - 모델명 마킹 1982년
    2. 납땜면
      - 꼭 폐곡선일 필요는 없다.
      - 가장 예민한 부분은 홈을 판 PCB 적용.
  6. E1326B DMM모듈에서
    - 가드링
9. LCR 미터에서
  1. HP 4278A 1kHz/1MHz C 미터
    1. 윗면 가드 링
    2. 아랫면 가드 링
  2. 4279A 1MHz C-V메터
    1. A2 signal source 보드 - 1MHz oscillator level 소스 + DC bias voltage 소스가 추가됨.
      - 이 4군데만 guard
    2. A6 4ch A-D converter에서
      - 초기
      - 청소(guard ring)
      - 뒷면 guard ring
      - 수리
  3. HP 4338A 밀리오옴미터에서
10. 기록계에서
  1. Advantest R7430 데이터 로거
  2. Yokogawa LR4110 펜레코더에서
    - 입력단자와 연결되는 Toroidal core를 사용한 CMF
    - guard ring
11. 정밀 파워서플라이에서
  1. Agilent 6613C DC 전원공급기 - 50V 1A(uA 단위로 측정하므로)
  2. Agilent 66311B Mobile Communication DC 소스, 15V 3A에서 (uA 측정하므로)
    1. 통신 보드
    2. 메인 보드
      - 매우 길고 많은 가드링
  3. Agilent 6634B DC 전원공급기
    - 가드링을 상당히 많은 부위에 넓게 사용하고 있다.
  4. HP 6652A DC 전원공급기
  5. HP 6675A DC 전원공급기
    - MXL1001 Precision Op Amp, DAC7545LP 12-bit DAC
    - LT1013 Dual Precision Op Amp 주변
12. HP 70420A Test Set
  1. 어떤 보드에서
  2. 전원보드에서. OP Amp와 관계없는 듯
    - Guard Ring
13. CDE ResMap 178 표면저항 측정기
  - 프루브 바늘과 릴레이, 앰프 사이에 가드링 형성
14. Yokogawa 2533, AC 파워미터
  1. RMS 보드에서
  2. A/D converter board
    - guard ring
  3. input module board
15. 니콘넥시브 VM-150N 제어보드, A3 - joystick 보드에서
  - PPMC101C, stepper motor controller
16. 거칠기측정기에서
17. OmniBER 725, Optical Interface
  - U25 OP77(precision op amp)에서 앞면
  - U25에서 뒷면
  - U15에서
  - 확대
18. Agilent 8960 무선통신 테스트 세트
  1. Frequency Synthesizer/Doubler
  2. IVF Measurement, Voltmeter/Counter 보드
  3. Audio 보드에서
    - 가드링이 보인다.
19. Nippon Denshoku ZE 2000 액체 색도계에 장착한 적분구 센서보드에서
  - 가드링
20. 혈당 센서, 연속 혈당 모니터(Continuous glucose monitor;CGM)에서
  - IC 부착면
  - 센서와 접촉면