Microtest TF-6815

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      1. Microtest TF-6815 임펄스테스터 - 이 페이지
Microtest Co., Ltd
1. 회사 홈 페이지 https://www.microtest.com.tw/
2. 한국 대리점 http://www.se-an.co.kr/
  1. 문의처 snchoi@se-an.co.kr
Microtest TF-6815
1. 이력
  1. 2020/12/17
  2. 2021/01/05 입고
2. 앞면
  - MICROTEST TF-6815 Impulse Winding Tester
  - H.V. RETURN
3. 뒷면
  - new type pat number 103986, S/N THHA8756
  - PC용 파워서플라이
4. 내부 구조
5. 디지털 회로 보드
  - M4A5-64 10VN, Lattice CPLD
  - DALLAS DS12C887 배터리+SRAM사용 RTC
  - DragonBall, MC68328PV16VA 모토로라 68000 시리즈 MCU, 16.58MHz 2.7MIPS
  - 슬리브L
6. 아날로그 보드
  1. 전체
  2. 마킹없는 IC
  3. 고압다이오드를 만들기 위한 직렬연결
  4. 고전압 전원공급기를 위한 승압회로
    - TDK CXA-L10A, CCFL inverter, 5V in 900V output
  5. 마킹을 지운 FET(?) - 참조: 마킹없는 IC
  6. 3개 사용한, 고전압 릴레이
    - Dolam K-562H, 7.5kV switch voltage, 2A, coil parameter: 12V/180Ω
  7. 저항전압계수 VCR 가 주요 규격인 고저항기
    - EBG FBX2/2 200K J, High Voltage Flat Style Resistor
  8. 고저항기
    - 절연저항을 높이기 위해 허공 PCB를 만들었다.
    - 200 x 10^5 = 20MΩ 1%
7. VME 커넥터를 사용한 백플랜
  - VME 커넥터
  - 고압트랜스, LCD 백라이트 CCFL용 TDK CXA-L10A, CCFL inverter, 5V in 900V output
  - 테스트 포트
8. 전면 패널
9. 전면 패널 포트
  1. 형상
    - 적색: H.V. 포트, 흑색: RETURN 포트
    - 계측기 내부에서 본 측정 포트 배선
  2. 사용 커넥터 형태. 방수 커넥터와 비슷하다. 맞춰보자.
  3. 아마 LEMO FGG 1B, 2-pin, quick release, push-pull Self-locking Plastic
10. 기본 화면
  - MICROTEST, Winding Tester, TF-6815, Ver 2.02
  - TF-6815, Firmware Ver 2.02(5kV), 2007-09-05, Hardware Ver H6B
11. 테스트-1 화면
12. 테스트-2
  1. 초크인덕터인 토로이달L로 실험함. LCR미터에서 측정하면 Ls 94uH Rs 0.1ohm @1kHz, 1Vosc
    - 2kV 5회
    - 피막을 손상시켰다. 이런 손상으로는 LCR 미터 1Vosc 측정에서는 Ls값에 아무런 문제가 없다.
  2. 손상을 가하기 전과 후의 임펄스 파형
    - 손상가하기 전.
    - 피막 벗긴 제품은 파형이 단순해진다. 그리고 손상 부위를 접촉지점을 분리시키면 정상파형을 보인다.
13. 트랜스포머에서 권선비가 낮은쪽을 인가하면, 권선비가 높은 반대측에 매우 높은 고전압이 나타나 불꽃방전이 일어나므로 트랜스포머가 고장난다.