"프루브카드"의 두 판 사이의 차이

잔글
 
(같은 사용자의 중간 판 4개는 보이지 않습니다)
3번째 줄: 3번째 줄:
 
<li> [[전자부품]]
 
<li> [[전자부품]]
 
<ol>
 
<ol>
<li> [[프루버]]
+
<li> [[프루버]] , [[RF측정]]
 
<ol>
 
<ol>
 
<li> [[프루브카드]] - 이 페이지
 
<li> [[프루브카드]] - 이 페이지
 +
<ol>
 +
<li>기술
 +
<ol>
 +
<li> [[세라믹 블레이드 프루브(Ceramic Blade Probe)]]
 +
<li> [[캔틸레버 프루브카드]]
 +
<li> [[포고핀 프루브카드]]
 +
<li> [[프루브카드 기판]]
 +
</ol>
 +
<li>용도에 따라
 +
<ol>
 +
<li> [[반도체IC 검사용 프루브카드]]
 +
<li> [[PCB 검사용 프루브카드]]
 +
<li> [[RF용 프루브카드]]
 +
</ol>
 +
<li>제조회사별
 +
<ol>
 +
<li> AccuProbe
 +
<li> [[Cascade]]
 
<li>  
 
<li>  
 
</ol>
 
</ol>
 +
</ol>
 +
<li> 프루브카드 비공개
 +
</ol>
 +
<li>참조
 +
<ol>
 +
<li> [[와이어본딩 패드]]
 
<li> [[포고핀]]
 
<li> [[포고핀]]
 
</ol>
 
</ol>
<li>반도체용
+
<li>참조
 +
<ol>
 +
<li> [[로직분석기 프루브]]
 +
<li> [[오실로스코프 프루브]]
 +
<li> RF용 [[액티브프루브]]
 +
</ol>
 +
</ol>
 +
<li>기술자료
 +
<ol>
 +
<li>위키페디아 Probe card https://en.wikipedia.org/wiki/Probe_card
 +
<ol>
 +
<li>overtravel: 수직이동 거리
 +
<li>skate: 프루브가 표면에 닿은 후(touchdown), 이동하는 수평거리
 +
</ol>
 +
<li>자료
 +
<ol>
 +
<li>Probe Card Tutorial
 +
<ol>
 +
<li>Keithley 회사 - 40p
 +
<li>Probe Metrology Panel Discussion, Freescale - 77p
 +
</ol>
 +
<li>논문, 기사, 투고 등
 +
<ol>
 +
<li>2007년 2월, 프로브카드 제조기술 동향 - 9p
 +
<li>2010년 11월, 프로브 카드 기술시장 동향 분석, 한국과학기술정보연구원 - 51p
 +
<li>SWTest
 +
<ol>
 +
<li>Proceedings(논문 모음집), https://www.swtest.org/archive/
 +
<ol>
 +
<li>2018 - 305p
 +
<li>2019 금 - 242p
 +
<li>2019 목 - 241p
 +
<li>2022 - 346p
 +
<li>2023 - 475p
 +
</ol>
 +
<li>FormFactor, 넓은 온도범위에서 배열 확대시 프루빙
 +
<ol>
 +
<li>위치 정밀도
 +
</ol>
 +
<li>FormFactor, 핀 카운트 증가에 따른 수직 프루브
 
<ol>
 
<ol>
<li>기념품 2014/11/05 최인철
+
<li>현재 80k 카운트까지 양산한다. 2025년에는 120k 이상될 것같다.
<gallery>
+
</ol>
image:choimedia01_001.jpg
+
<li>Advantest, MLO 기판에서 고속 통신 평가
image:choimedia01_002.jpg
+
<ol>
</gallery>
+
<li>디지털의 SerDes(Serializer-Deserializer), 아날로그의 고주파수 RF처럼 매우 빠른 통신이 필요하다. 50GHz까지 평가한다.
 +
</ol>
 +
<li>TSMC, MLO 기판에서 HPC(High Performance Computing)용 프루빙
 +
<ol>
 +
<li>약 180kg 힘, 1.5kW 전력 필요, 125'C까지 온도 상승
 +
</ol>
 +
</ol>
 +
</ol>
 +
<li>국내 프루브카드 제조업체
 +
<ol>
 +
<li>코리아인스트루먼트(Korea Instrument Co., Ltd.); http://www.kicl.co.kr/
 +
<ol>
 +
<li>국내 1위, 2023년 매출 869억. 상각전영업이익 100억.
 +
<li>2024/11/04 이상파트너스 컨소시엄이 1500억 자금을 들여 지분 약 65% 인수했다.
 
</ol>
 
</ol>
<li>메모리카드 수리용,
+
<li>마이크로프랜드
 
<ol>
 
<ol>
<li>2020/12/10 구입품
+
<li>2020/11/19 Nice평가정보 기술분석보고서 - 21p
 +
<li>2023/03/09 한국IR협의회 기업리서치센터 - 18p
 +
</ol>
 +
<li>PMT(=Protec)
 
<ol>
 
<ol>
<li> [[van der Pauw]] 면저항 측정용으로 구입함.
+
<li>2024/03/21, 제20기 2023년 사업보고서 - 156p
<gallery>
+
</ol>
image:probe_tool01_001.jpg | memory card repair probe tool
+
<li>AMST http://www.amst.co.kr/
image:probe_tool01_002.jpg | JOYWES MC005, Design by Forrest
+
<li>Micro2Nano(엠투엔) https://micro2nano.com/
image:probe_tool01_003.jpg
+
<li>TSE Probe Card 사업부
image:probe_tool01_004.jpg
+
<li>TFE(티에프이) - 패키징 소켓제조업체, 동종업체는 ISC
image:probe_tool01_005.jpg | 바늘이 교차할 때 쇼트를 예방하는 절연튜브
 
image:probe_tool01_006.jpg | 커넥터를 연결해야 한다.
 
</gallery>
 
<li>PCB 설계에서 오류가 한 군데 있다.
 
<gallery>
 
image:probe_tool01_007.jpg
 
</gallery>
 
 
</ol>
 
</ol>
 
</ol>
 
</ol>
<li>RF용
+
<li>프루브 카드 청소
 
<ol>
 
<ol>
<li>고급품 - 어느 모델 A
+
<li>Entegris
 
<ol>
 
<ol>
<li>PCB
+
<li>Probe Card Clean (PCC)
<gallery>
+
<ol>Probe Polish, Probe Lap, LCxK, Probe Form, Probe Vertical, Probe Clean, Probe Scrub, Probe Refresh, Fiber Film, Assembly Clean
image:pyramid_board01_001.jpg
+
</ol>
</gallery>
 
<li>Core
 
<gallery>
 
image:pyramid_core01_014.jpg
 
</gallery>
 
<li>Contact Bump
 
<gallery>
 
image:pyramid_microscrub01_007.jpg
 
</gallery>
 
 
</ol>
 
</ol>
<li>중급품 - 어느 회사A
 
<gallery>
 
image:apollo01_003.jpg
 
</gallery>
 
<li>저금품 - Yulim
 
<gallery>
 
image:yulim01_001.jpg
 
image:yulim01_002.jpg
 
image:yulim01_003.jpg
 
image:yulim01_004.jpg
 
image:yulim01_005.jpg
 
image:yulim01_006.jpg
 
image:yulim01_007.jpg
 
</gallery>
 
 
</ol>
 
</ol>
<li>캔틸레버 - DC 측정용
+
<li>프루브 바늘(probe needle)
 +
<ol>
 +
<li> [[캔틸레버 프루브카드]]용
 
<ol>
 
<ol>
<li>바늘
+
<li>Advanced Probing Systems 홈 페이지
<gallery>
 
image:renion141210_002.jpg | 원자재
 
image:renion141210_005.jpg | 원하는 길이, 각도로 구부린다.
 
</gallery>
 
<li>RF 흉내 멀티 스위칭
 
<gallery>
 
image:renion_multi01_008.jpg
 
image:renion_multi01_009.jpg
 
</gallery>
 
<li>RF 흉내 LCR칩
 
<gallery>
 
image:renion_lcr01_003.jpg
 
</gallery>
 
<li>LED
 
 
<ol>
 
<ol>
<li>어느 모델 A
+
<li>바늘 재료별 접촉저항 비교 - 5p
<gallery>
+
<li>Tungsten-rhenium 바늘 소개-1
image:renion_led01_003.jpg
+
<li>이 회사 바늘 정보 - 3p
</gallery>
 
 
</ol>
 
</ol>
<li>TPH용 - http://www.adnt.co.kr/ 제작
+
<li>한국, 2024년 인터넷 홈 페이지 기준
 
<ol>
 
<ol>
<li>IC용
+
<li>새한마이크로텍 , 경기도 남양주시 진접읍
<gallery>
 
image:renion_tph01_003.jpg
 
image:renion_tph01_004.jpg
 
</gallery>
 
<li>기판용
 
 
<ol>
 
<ol>
<li>외관
+
<li>회사소개서
<gallery>
+
<li>  
image:tph_mp01_001.jpg
+
</ol>
image:tph_mp01_002.jpg
+
<li>이레세미텍 , 경기도 부천시 원미구
image:tph_mp01_003.jpg
+
</ol>
</gallery>
+
<li>2014/05/06 인터넷에서 조사한 내용을 정리함
<li>위면 - 커넥터면
+
<li>프루브 팁과 골드 패드 사이의 접촉저항 분석 - 25p
<gallery>
+
</ol>
image:tph_mp01_005.jpg
+
</ol>
image:tph_mp01_006.jpg
 
</gallery>
 
<li>아래면 - 기판 접촉면
 
<gallery>
 
image:tph_mp01_004.jpg
 
image:tph_mp01_007.jpg
 
</gallery>
 
<li>바늘 연결 납땜
 
<gallery>
 
image:tph_mp01_008.jpg
 
image:tph_mp01_009.jpg
 
</gallery>
 
<li>바늘 끝
 
<gallery>
 
image:tph_mp01_010.jpg
 
image:tph_mp01_011.jpg
 
image:tph_mp01_012.jpg
 
</gallery>
 
 
</ol>
 
</ol>
<li>SST용
+
<li>바늘 자국
 +
<ol>
 +
<li> [[주변광 조도센서]]
 +
<ol>
 +
<li>2013년 11월 출시 [[Gigabyte P34 노트북]]
 
<gallery>
 
<gallery>
image:tph_sst01_001.jpg
+
image:gigabyte_p34_141.jpg | [[프루브카드]] 바늘자국
image:tph_sst01_002.jpg
 
image:tph_sst01_003.jpg
 
image:tph_sst01_004.jpg
 
image:tph_sst01_005.jpg
 
image:tph_sst01_006.jpg
 
image:tph_sst01_007.jpg
 
image:tph_sst01_008.jpg
 
image:tph_sst01_009.jpg
 
 
</gallery>
 
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
 
</ol>
 
</ol>
<li>VBPC(Vertical Bending Probe Card)
+
<li>메모리카드 수리용,
 +
<ol>
 +
<li>2020/12/10 구입품
 
<ol>
 
<ol>
<li>계측기쪽 연결 단자
+
<li> [[van der Pauw]] 면저항 측정용으로 구입함.
 
<gallery>
 
<gallery>
image:vertical_bending_probe_card1_007.jpg
+
image:probe_tool01_001.jpg | memory card repair probe tool
image:vertical_bending_probe_card1_008.jpg
+
image:probe_tool01_002.jpg | JOYWES MC005, Design by Forrest
image:vertical_bending_probe_card1_016.jpg
+
image:probe_tool01_003.jpg
 +
image:probe_tool01_004.jpg
 +
image:probe_tool01_005.jpg | 바늘이 교차할 때 쇼트를 예방하는 절연튜브
 +
image:probe_tool01_006.jpg | 커넥터를 연결해야 한다.
 
</gallery>
 
</gallery>
<li>접촉 단자
+
<li>PCB 설계에서 오류가 한 군데 있다.
 
<gallery>
 
<gallery>
image:vertical_bending_probe_card1_018.jpg | 약 2도 기우려짐
+
image:probe_tool01_007.jpg
image:vertical_bending_probe_card1_020.jpg
 
</gallery>
 
<li>바늘과 구리선 연결 방법
 
<gallery>
 
image:vertical_bending_probe_card1_032.jpg
 
image:vertical_bending_probe_card1_032_1.jpg | 구리선을 몰딩하고 연마하고 도금함
 
</gallery>
 
<li>바늘
 
<gallery>
 
image:vertical_bending_probe_card1_038.jpg
 
image:vertical_bending_probe_card1_041.jpg | 페인트칠
 
</gallery>
 
<li>바늘 브라켓 가공
 
<gallery>
 
image:vertical_bending_probe_card1_042.jpg
 
image:vertical_bending_probe_card1_043.jpg
 
image:vertical_bending_probe_card1_044.jpg
 
image:vertical_bending_probe_card1_045.jpg
 
 
</gallery>
 
</gallery>
 +
</ol>
 
</ol>
 
</ol>
 
<li>DLC = Direct Line Contact
 
<li>DLC = Direct Line Contact

2025년 8월 30일 (토) 17:41 기준 최신판

프루브카드

  1. 전자부품
    1. 프루버 , RF측정
      1. 프루브카드 - 이 페이지
        1. 기술
          1. 세라믹 블레이드 프루브(Ceramic Blade Probe)
          2. 캔틸레버 프루브카드
          3. 포고핀 프루브카드
          4. 프루브카드 기판
        2. 용도에 따라
          1. 반도체IC 검사용 프루브카드
          2. PCB 검사용 프루브카드
          3. RF용 프루브카드
        3. 제조회사별
          1. AccuProbe
          2. Cascade
      2. 프루브카드 비공개
    2. 참조
      1. 와이어본딩 패드
      2. 포고핀
    3. 참조
      1. 로직분석기 프루브
      2. 오실로스코프 프루브
      3. RF용 액티브프루브
  2. 기술자료
    1. 위키페디아 Probe card https://en.wikipedia.org/wiki/Probe_card
      1. overtravel: 수직이동 거리
      2. skate: 프루브가 표면에 닿은 후(touchdown), 이동하는 수평거리
    2. 자료
      1. Probe Card Tutorial
        1. Keithley 회사 - 40p
        2. Probe Metrology Panel Discussion, Freescale - 77p
      2. 논문, 기사, 투고 등
        1. 2007년 2월, 프로브카드 제조기술 동향 - 9p
        2. 2010년 11월, 프로브 카드 기술시장 동향 분석, 한국과학기술정보연구원 - 51p
        3. SWTest
          1. Proceedings(논문 모음집), https://www.swtest.org/archive/
            1. 2018 - 305p
            2. 2019 금 - 242p
            3. 2019 목 - 241p
            4. 2022 - 346p
            5. 2023 - 475p
          2. FormFactor, 넓은 온도범위에서 배열 확대시 프루빙
            1. 위치 정밀도
          3. FormFactor, 핀 카운트 증가에 따른 수직 프루브
            1. 현재 80k 카운트까지 양산한다. 2025년에는 120k 이상될 것같다.
          4. Advantest, MLO 기판에서 고속 통신 평가
            1. 디지털의 SerDes(Serializer-Deserializer), 아날로그의 고주파수 RF처럼 매우 빠른 통신이 필요하다. 50GHz까지 평가한다.
          5. TSMC, MLO 기판에서 HPC(High Performance Computing)용 프루빙
            1. 약 180kg 힘, 1.5kW 전력 필요, 125'C까지 온도 상승
      3. 국내 프루브카드 제조업체
        1. 코리아인스트루먼트(Korea Instrument Co., Ltd.); http://www.kicl.co.kr/
          1. 국내 1위, 2023년 매출 869억. 상각전영업이익 100억.
          2. 2024/11/04 이상파트너스 컨소시엄이 1500억 자금을 들여 지분 약 65% 인수했다.
        2. 마이크로프랜드
          1. 2020/11/19 Nice평가정보 기술분석보고서 - 21p
          2. 2023/03/09 한국IR협의회 기업리서치센터 - 18p
        3. PMT(=Protec)
          1. 2024/03/21, 제20기 2023년 사업보고서 - 156p
        4. AMST http://www.amst.co.kr/
        5. Micro2Nano(엠투엔) https://micro2nano.com/
        6. TSE Probe Card 사업부
        7. TFE(티에프이) - 패키징 소켓제조업체, 동종업체는 ISC
    3. 프루브 카드 청소
      1. Entegris
        1. Probe Card Clean (PCC)
            Probe Polish, Probe Lap, LCxK, Probe Form, Probe Vertical, Probe Clean, Probe Scrub, Probe Refresh, Fiber Film, Assembly Clean
    4. 프루브 바늘(probe needle)
      1. 캔틸레버 프루브카드
        1. Advanced Probing Systems 홈 페이지
          1. 바늘 재료별 접촉저항 비교 - 5p
          2. Tungsten-rhenium 바늘 소개-1
          3. 이 회사 바늘 정보 - 3p
        2. 한국, 2024년 인터넷 홈 페이지 기준
          1. 새한마이크로텍 , 경기도 남양주시 진접읍
            1. 회사소개서
          2. 이레세미텍 , 경기도 부천시 원미구
        3. 2014/05/06 인터넷에서 조사한 내용을 정리함
        4. 프루브 팁과 골드 패드 사이의 접촉저항 분석 - 25p
  3. 바늘 자국
    1. 주변광 조도센서
      1. 2013년 11월 출시 Gigabyte P34 노트북
  4. 메모리카드 수리용,
    1. 2020/12/10 구입품
      1. van der Pauw 면저항 측정용으로 구입함.
      2. PCB 설계에서 오류가 한 군데 있다.
  5. DLC = Direct Line Contact