1년, 204일, 11시간, 5분 - Togotech

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image:sh170_021_003.jpg | 위쪽 다이싱 여백에 해상도 챠트
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<li> [[압력센서]], COPAL(Nidec) P-3000S-102G-10, 0~98kPa(0~1kgf/cm2) analog output(Resistance)
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image:mx8000sm2_015_015.jpg | 정렬키 align key
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image:mx8000sm2_015_016.jpg | [[광학 해상도 차트]]
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<li>AMI회사 [[제어기]]용 ASIC, American Microsystems, Inc. -> AMI Semiconductor(-> ON Semiconductor), 이 회사는 ASIC을 전문으로 만든다.
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image:8960_23_007_010.jpg | AMI 1997, [[Copyright]] 마크
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image:8960_23_007_011.jpg | Idaho [[IC 표식]]
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image:8960_23_007_012.jpg | 공정별 해상도 차트 06825006 [[TEG]]
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<li>지자기센서라고 부르는 [[나침반]], AKM AK8963
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image:iphone5s01_153.jpg | 4164 AKM 2011
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image:iphone5s01_154.jpg | 회사로고 [[IC 표식]]
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<li> [[카메라 모듈]] 이미지 센서에서
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<li>2014 삼성 갤럭시 S5 [[SM-G906S]]
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<li>LCD 유리판에서
 
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<li> 모바일게임기 [[Zodiac2]] LCD 패널에서
 
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<li> Tektronix [[TDS460A]] 오실로스코프에서
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<li>2007년 팬택&큐리텔 스위블 피처폰 [[canU701D]], [[핸드폰 LCD]]
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<li>MAXIM, Tek Part No. 155-0378-01
 
 
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image:tds460a01_081.jpg | 다이 왼쪽에서 면적의 약 10%차지하고 있음
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image:canu701d_056.jpg | 치수 검사 패턴(?)
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[[van der Pauw]] 패턴image:tds460a01_085.jpg
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image:canu701d_060.jpg | ACF 금속볼이 찌그러진 형태를 관찰할 수 있는 영역
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<li> [[Tektronix TDS540]] 오실로스코프에서
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<li>2014 삼성 갤럭시 S5 [[SM-G906S]]
 
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<li>flash 방식 [[ADC]] 다이
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<li> [[광학 해상도 차트]]
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<li> [[TEG]] 2
 
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image:tds540_05_023.jpg | M606A Tek, 8-bit 분해능을 갖기 때문에 256개 voltage comparator가 있다.
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image:tds540_05_027.jpg | [[TEG]]
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<li>2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 [[SM-A710S]]에서
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<li>2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 [[SM-A710S]]에서 [[OLED]] 에서
 
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image:a710s01_061.jpg | 여러 개 [[TEG]] 중 하나
 
image:a710s01_061.jpg | 여러 개 [[TEG]] 중 하나
 
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<li>SAW 필터에서 [[SAW대문]]
 
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<li>2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 [[SM-A710S]]
 
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image:a710s01_076_010.jpg | [[TEG]] 막대기 폭 1.5um, 우하단: 1차전극 2차전극 정렬도 검사 패턴
 
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2022년 11월 24일 (목) 21:46 기준 최신판

TEG; Test Element Group

  1. 전자부품
    1. 광관련
      1. 반도체 관련
        1. TEG - 이 페이지
          1. 광학 해상도 차트 - 이 페이지 optical resolution charts
        2. IC 표식
        3. Copyright
      2. 참고
        2. 포토마스크
  2. 인쇄패턴으로
    1. Solartron Schlumberger 7060 DMM에서
      1. 멤브레인 스위치

        • 저항측정을 위한 잉크R 테스트 패턴 TEG

        • 7060a01 033.jpg
  3. PCB 동박패턴으로
  4. 실리콘 반도체 다이에서
    1. PowerPC 7450(G4) 프로세서
    2. 인텔 8085 MCU 에서

      • NEC D8085AH

      • 3단자를 사용한 TEG

      • 오른쪽 1번 본딩패드에서 반시계방향으로 회전해서, 왼쪽 40번까지

    3. Tektronix TDS460A 오실로스코프에서
      1. MAXIM, Tek Part No. 155-0378-01
        • tds460a01 076.jpg

        • 다이 왼쪽에서 면적의 약 10%차지하고 있음

        • tds460a01 082.jpg
        • tds460a01 083.jpg
        • tds460a01 084.jpg
        • tds460a01 086.jpg
        • tds460a01 087.jpg
        • tds460a01 088.jpg
        • tds460a01 089.jpg
        • tds460a01 090.jpg
    4. Tektronix TDS540 오실로스코프에서
      1. flash 방식 ADC 다이

        • M606A Tek, 8-bit 분해능을 갖기 때문에 256개 voltage comparator가 있다.

        • TEG

    5. 트랜시버 IC
      1. RTR6250 RF chip(GSM(900,1800,1900) + W-CDMA(2100) transmit)

        • 위쪽 다이싱 여백에 해상도 챠트

        • 아랫쪽 다이싱 여백에 공정 챠트

    6. UNISEF, CDP에서

      • 상단 전체에 각종 [[TEG] 패턴들이 배열되어 있음.

      • 3개 layer에 대한 alignment 체크용 TEG

    7. TR6878 DMM에서
      1. 패키징

        • Fujitsu, MB60H125 8510(85년 10로트)

        • tr6878 030 002.jpg
      2. 1사분면 코너
        • tr6878 030 004.jpg
        • tr6878 030 005.jpg
      3. 2사분면 코너
        • tr6878 030 006.jpg
        • tr6878 030 007.jpg
      4. 4사분면 코너
        • tr6878 030 010.jpg
        • tr6878 030 011.jpg
    8. 압력센서, COPAL(Nidec) P-3000S-102G-10, 0~98kPa(0~1kgf/cm2) analog output(Resistance)
    9. AMI회사 제어기용 ASIC, American Microsystems, Inc. -> AMI Semiconductor(-> ON Semiconductor), 이 회사는 ASIC을 전문으로 만든다.
  5. 지자기센서라고 부르는 나침반, AKM AK8963
  6. 카메라 모듈 이미지 센서에서
    1. 2014 삼성 갤럭시 S5 SM-G906S

      • CL RED GRN TEG

  7. LCD 유리판에서
    1. 모바일게임기 Zodiac2 LCD 패널에서
      1. 위치
        • zodiac2 024 001.jpg
      2. TEG
        1. 3가지
          • zodiac2 024 002.jpg
        2. 공정별 얼라인 체크-1
          • zodiac2 024 003.jpg
        3. 공정별 얼라인 체크-2
          • zodiac2 024 004.jpg
          • zodiac2 024 005.jpg
        4. 전기적 특성 체크
          • zodiac2 024 006.jpg
          • zodiac2 024 007.jpg

          • 4단자 측정

      3. 기타

        • 레이어별 공정 진행

        • 얼라인 키

      4. 회로

        • DDI 본딩된 곳

        • LCD 가장자리

    2. 라인어스, Electrophoretic Display(EPD) 방식 에서
      • epaper2 008.jpg
      • epaper2 009.jpg
    3. 2007년 팬택&큐리텔 스위블 피처폰 canU701D, 핸드폰 LCD

      • 10050x1256 픽셀 사진

      • 치수 검사 패턴(?)

      • 정렬도 vernier 검사패턴(VARNIER 철자로 적혀 있음)

      • 4단자로 전기적 특성 측정 TEG

      • 니콘 스테퍼 얼라인 키로 추정

      • ACF 금속볼이 찌그러진 형태를 관찰할 수 있는 영역

  8. OLED에서
    1. 2014 삼성 갤럭시 S5 SM-G906S
      1. 광학 해상도 차트
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        • sm g906s 015.jpg
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      2. TEG 2
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        • sm g906s 021.jpg
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    2. 2016년 출시 삼성 갤럭시 A7 SM-A710S에서 OLED 에서

      • 여러 개 TEG 중 하나

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