"하프 커팅후 절단"의 두 판 사이의 차이
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| + | image:iphone5s01_212.jpg | WLP를 위해 [[에칭]]으로 실리콘 다이 측면을 45도 경사로 만들었다. [[IR 차단 필터]] 유리 또한 Bevel cut [[하프 커팅후 절단]]하였다. | ||
| + | image:a1538_020_005.jpg | 불에 태워서 [[IR 차단 필터]](Bevel cut [[하프 커팅후 절단]]되어 있다.)를 떼어냄. 투명 유기물 접착제가 불에 탔다. | ||
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<li> [[SAW-핸드폰DPX]]에서 | <li> [[SAW-핸드폰DPX]]에서 | ||
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image:iphone5s01_150.jpg | 두 번 다이싱 | image:iphone5s01_150.jpg | 두 번 다이싱 | ||
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<li>2018.06 출시한 샤오미 [[미밴드3]] | <li>2018.06 출시한 샤오미 [[미밴드3]] | ||
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| + | <li> [[Fukuta 에어리크에서 보조 차압센서]] | ||
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| + | image:leak05_015.jpg | 실리콘 센서 다이와 구멍이 있는 유리 다이([[하프 커팅후 절단]]되었다.)를 서로 붙였다. | ||
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<li>뒤집어 다시 잘랐다.(추정) | <li>뒤집어 다시 잘랐다.(추정) | ||
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<li>2008.04 출시 Motorola [[Z8m]] 슬라이드 피처폰 | <li>2008.04 출시 Motorola [[Z8m]] 슬라이드 피처폰 | ||
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| − | image:z8m01_042.jpg | 0.4x0.2mm [[ | + | image:z8m01_042.jpg | 0.4x0.2mm [[칩저항기]] 및 LTCC [[다이싱]] 방법 |
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<li>half-cut 후 부러뜨렸다. | <li>half-cut 후 부러뜨렸다. | ||
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image:tr6878_026_003.jpg | [[다이싱]]은 half-cut | image:tr6878_026_003.jpg | [[다이싱]]은 half-cut | ||
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<li>뒷면에서 half-cut 후 부러뜨렸다. | <li>뒷면에서 half-cut 후 부러뜨렸다. | ||
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| − | <li>MEMSIC A2500G 모델. 진동막이 다이싱 때 깨지면 안되므로 웨이퍼 | + | <li>MEMSIC A2500G 모델. 진동막이 다이싱 때 깨지면 안되므로 웨이퍼 뒷면에서 다이싱하는 듯. |
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image:ibm_t40_112_012.jpg | 상당히 얇은 표면 층을 남겨두는 다이싱했다. | image:ibm_t40_112_012.jpg | 상당히 얇은 표면 층을 남겨두는 다이싱했다. | ||
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| + | <li>실리콘 IC [[하프 커팅후 절단]]. 위에서 두께의 45% 천천히 자르고, 20% 깊숙히 빠르게 자르고, 뒤집어 나머지 자른듯(?) | ||
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| + | <li> [[Panasonic VP-7750A 와우 플러터 미터]] | ||
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image:vp_7750a_080.jpg | LM306H, high-speed voltage comparators | image:vp_7750a_080.jpg | LM306H, high-speed voltage comparators | ||
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| − | <li> [[ | + | <li> [[PIR센서]] |
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image:pir_sw01_022_001.jpg | 길이 방향만 하프다이싱, 폭방향은 풀다이싱 | image:pir_sw01_022_001.jpg | 길이 방향만 하프다이싱, 폭방향은 풀다이싱 | ||
2025년 3월 14일 (금) 12:58 기준 최신판
하프 커팅후 절단
- 전자부품
- half-cut 다이싱 후
- Bevel cut
- step cut: 두꺼운 블레이드로 1차 자르고, 가는 블레이드로 완전히 자르는 방법을 말한다.
- LTCC 기판
- 파나소닉 UJDA745 노트북용 DVD 드라이브
두꺼운 블레이드로 절반 다이싱 하였다.
- 파나소닉 UJDA745 노트북용 DVD 드라이브
- 정전식 지문센서
- 지자기센서라고 부르는 나침반, AKM AK8963 3-axis electronic compass IC
- 가속도센서
- 2018.06 출시한 샤오미 미밴드3
- 사진
- 다이싱
- 판독IC: half cut (full cut 해도 될텐데...)
- MEMS 센서: 두 장의 실리콘 wafer을 서로 웨이퍼 본딩 후, 뚜껑 웨이퍼 두께만 half cut 다이싱한 후, (뒤집어서?) full cut 다이싱
- 웨이퍼 본딩을 유리 frit 접착제로 해서 바로 블레이드 다이싱을 하면 깨지는 문제가 있는 듯.
- 사진
- 2018.06 출시한 샤오미 미밴드3
- Fukuta 에어리크에서 보조 차압센서
실리콘 센서 다이와 구멍이 있는 유리 다이(하프 커팅후 절단되었다.)를 서로 붙였다.
- LTCC 기판
- 뒤집어 다시 잘랐다.(추정)
- half-cut 후 부러뜨렸다.
- Advantest TR6878 DMM 정밀저항기에서
다이싱은 half-cut
- Advantest TR6878 DMM 정밀저항기에서
- 뒷면에서 half-cut 후 부러뜨렸다.
- 압전 저항 센싱 방식의 가속도센서
- MEMSIC A2500G 모델. 진동막이 다이싱 때 깨지면 안되므로 웨이퍼 뒷면에서 다이싱하는 듯.
- MEMSIC A2500G 모델. 진동막이 다이싱 때 깨지면 안되므로 웨이퍼 뒷면에서 다이싱하는 듯.
- 압전 저항 센싱 방식의 가속도센서
- LTCC 제품 중에서 에폭시 몰딩품에서
- 실리콘 웨이퍼
- TCXO 내부 실리콘 IC에서
- 만도 KMD-100 RF하이패스 단말기, 로스윈PLL 모듈속에서
- 실리콘 IC 하프 커팅후 절단. 위에서 두께의 45% 천천히 자르고, 20% 깊숙히 빠르게 자르고, 뒤집어 나머지 자른듯(?)
- 실리콘 IC 하프 커팅후 절단. 위에서 두께의 45% 천천히 자르고, 20% 깊숙히 빠르게 자르고, 뒤집어 나머지 자른듯(?)
- 만도 KMD-100 RF하이패스 단말기, 로스윈PLL 모듈속에서
- Panasonic VP-7750A 와우 플러터 미터
- HP 8112A 50 MHz pulse generator에서, 어떤 Tr에서
- 인텔 8085 MCU, 1985년 제조품에서. 당시 full dicing은 어려운 기술이었다.(?)
- PIR센서
- TCXO 내부 실리콘 IC에서