"차폐"의 두 판 사이의 차이

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EMI
 
EMI
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<li>링크
 
 
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<li> [[EMI]] - 이 페이지
 
<li> [[EMI]] - 이 페이지
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<li> [[차폐]] - 이 페이지
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<li>기술
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<li> [[차폐 관련 문서]]
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<li> [[차폐율 측정]]
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<li>부품
 
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<li> [[실드 박스]]
 
 
<li> [[실드 깡통]]
 
<li> [[실드 깡통]]
 
<li> [[실드 코팅]]
 
<li> [[실드 코팅]]
<li> [[실드 테이프]], [[실드 포일]]
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<li> [[실드 통풍구]]
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<li> [[RF모듈에서 실드 코팅]]
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<li> [[실드 가스켓]]
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<li> [[핑거스톡(fingerstock)]]
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<li> [[차폐 클립]] , [[차폐 핑거]]
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<li> [[차폐 접착제]]
 
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<li>참조
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<li> [[차폐 포일]] , [[실드 포일]]
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<li> [[차폐 테이프]] , [[실드 테이프]]
 
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<li> [[접지]]
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<li> [[차폐 직물]]
<li> [[PC용 동축케이블]]
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<li> [[전자파 차단 스티커]]
<li> [[가드링]]
+
<li> [[차폐 테이프를 둥글게 말아서 사용]]
 
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<li> [[실드 통풍구]]
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<li> [[실드 비아]]
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<li> [[전파 흡수체]]
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<li> [[PIM]]
 
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<li>공통
+
<li>적용되는 곳
 
<ol>
 
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<li>제조회사 자료
+
<li> [[스피커 접지]]
 +
<li> [[카메라 모듈 접지]]
 +
</ol>
 +
<li>측정
 
<ol>
 
<ol>
<li> - 12p
+
<li> [[로그 주기 안테나]]
<li>  
+
<li> [[EMC 니어필드 프루브]]
 +
<li> [[실드 박스]]
 
<ol>
 
<ol>
<li> - 218p
+
<li> [[전자레인지 실드 박스]]
 
</ol>
 
</ol>
 +
<li> [[TEM cell]]
 
</ol>
 
</ol>
<li>shielding gasket(가스켓)
+
<li>집중적으로 분석한 전자기기
 
<ol>
 
<ol>
<li>정리
+
<li>2008.03 출시 [[삼성 애니콜 햅틱, SCH-W420 피처폰]]
 +
<li>2012.06 출시 [[LG-F160S Optimus LTE2 스마트폰]]
 +
<li>2012.11 출시 [[iPad mini 1세대, WiFi 모델 A1432]] 태블릿
 +
</ol>
 +
</ol>
 +
<li>참조
 
<ol>
 
<ol>
<li>15/01/29
+
<li> [[접지]]
<li>10/11/19 - 전파연구소, 87p
+
<li> [[가드링]]
 +
<li>플라스틱에 [[도금]]하여
 
</ol>
 
</ol>
<li>카탈로그
+
<li>참조
 
<ol>
 
<ol>
<li>10/08/23 - 52p
+
<li> [[차폐전선]]
<li>10/06/04 - 64p
+
<li> [[PC용 동축케이블]]
<li>// - 40p
 
 
</ol>
 
</ol>
</ol>
+
<li>참조
<li>knitted wire mesh
 
</ol>
 
<li>기술
 
<ol>
 
<li>금속은 대부분 반사시킨다.
 
 
<ol>
 
<ol>
<li>구멍이 있다면, cut-off frequency[GHz]=15/구멍폭[cm]
+
<li> [[자기 차폐]]
 
</ol>
 
</ol>
 
</ol>
 
</ol>
 
<li>순수 금속으로
 
<li>순수 금속으로
 
<ol>
 
<ol>
<li>접지 수직판을 세워서
+
<li> [[실드 테이프]], [[실드 포일]]
 +
<li>접지 납땜으로(가장 당연한 방법이므로, 특별한 경우에만 이곳에 기술함.)
 
<ol>
 
<ol>
<li> [[8840A]] DMM에서
+
<li> [[BS 튜너용 IF SAW 필터]]
<gallery>
 
image:8840_01_008.jpg | [[EMI]] 차폐금속, bend up 90', sheild A/D (=L-shaped shield plate)
 
</gallery>
 
<li> [[HP5334B]] 카운터에서
 
 
<gallery>
 
<gallery>
image:hp5334b02_019.jpg | Gordos [[리드릴레이]]와 입력포트 사이에 [[EMI]] 차폐판
+
image:tuner1_001.jpg | [[차폐]] 향상을 위해 캔에도 접지 납땜이 되어 있다.
 
</gallery>
 
</gallery>
<li>차폐를 위해 접지에만 연결된 [[단판C]]
+
<li> [[SAW 듀플렉서]], 3.8x3.8mm, Fujitsu FAR-D5CF-881M50-D1F1 기종에서
 
<ol>
 
<ol>
<li> Kikusui [[AVM13]] decibel meter에서
+
<li> [[EMI]] 차폐를 강화시킨 밑면 [[접지]] 패턴
 
<gallery>
 
<gallery>
image:avm13_009.jpg
+
image:im_u110_018_006.jpg | ANT Tx Rx 단자 위치. 패키지 밑면 T자 접지에 납땜하지 않았다.
image:avm13_017.jpg
+
image:im_u110_018_007.jpg | 갈아낸 후 전극 모양
 
</gallery>
 
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
<li>D-sub 커넥터 female 에 가운데 실드 판
+
</ol>
 +
<li>평면 금속으로(그러므로 큰 효과가 없을 듯)
 +
<ol>
 +
<li>마치 [[가드링]]과 같이 설계한, 평면 [[EMI]] 차폐용 [[접지]]
 
<ol>
 
<ol>
<li> [[HP 70001A Mainframe]]
+
<li> [[2.5인치HDD]], Hitachi, IC25N080ATMR04-0, 4200rpm, 80GB, ATA/IDE, 2003-04-28 제조품에서
 
<gallery>
 
<gallery>
image:e5501b05_052.jpg | 가운데 실드
+
image:hdd2p5_09_005.jpg
 +
image:hdd2p5_09_006.jpg
 
</gallery>
 
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
</ol>
+
<li> [[SAW 듀플렉서]], CDMA용 850MHz SAWTEK 856331에서
<li>접지된 포일을 감싸고
 
<ol>
 
<li> [[타이머]]
 
 
<gallery>
 
<gallery>
image:timer01_005.jpg
+
image:ms500_01_029.jpg | 왼쪽, 오른쪽 두 패턴 사이를 [[차폐]]하기 위한 Y자 접지 패턴이 이채롭다.
image:timer01_006.jpg | [[EMI]] 실드를 위한 구리테이프 납땜
 
 
</gallery>
 
</gallery>
<li> [[LCR-U1701B]] 휴대용 C미터
 
<gallery>
 
image:u1701b01_009.jpg | 스프링으로 연결됨.
 
</gallery>
 
<li>2006년 07월 출시 [[노트북]], [[Compaq nx6320]]
 
<ol>
 
<li>CCFL 백라이트 뒷면 알루미늄 포일 실드
 
<gallery>
 
image:compaq_nx6320_015.jpg
 
</gallery>
 
</ol>
 
 
</ol>
 
</ol>
<li>부품 위로 루프를 만들어서
+
<li>shielded connector hoods
 
<ol>
 
<ol>
<li> [[OmniBER]] 광통신용 계측기
+
<li> [[D-sub]] 커넥터
 
<ol>
 
<ol>
<li>[[마이크로-X]] 패키지에서
+
<li> [[TIRAtest UTM용 로드셀]]
 
<gallery>
 
<gallery>
image:j1409a00_025_036.jpg
+
image:utm01_037_001_001.jpg
image:j1409a00_025_036_001.jpg
+
image:utm01_037_001_004.jpg
 
</gallery>
 
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
 
</ol>
 
</ol>
<li>평면 가스켓 - 빈공간을 최대한 없애려고
+
<li>접지 기둥을 수직으로 세워서
 
<ol>
 
<ol>
<li> [[Agilent 85093]] 2port E-Cal
+
<li> [[HP 8753E 네트워크분석기]]
 
<gallery>
 
<gallery>
image:85093a_009.jpg | 실드용 [[EMI]] 금속 평면 가스켓
+
image:hp8753e_02_010.jpg | 접지 핀을 일렬로 세워서 [[EMI]] 차폐를 하고 있다.
 
</gallery>
 
</gallery>
</ol>
+
<li>2020.09 출시 [[삼성 갤럭시 Z 플립 5G, SM-F707N 스마트폰]]
<li>(전형적인) 띠로 만든 가스켓
 
<ol>
 
<li> [[OmniBER]] 광통신용 계측기
 
 
<ol>
 
<ol>
<li>샤시에서, EMI gasket
+
<li> [[RF모듈에서 실드 코팅]]된 부품 11개 중에서
 
<gallery>
 
<gallery>
image:j1409a00_028_003.jpg
+
image:flip5g01_038.jpg | Avago 9136HU002, [[PAM]] ?
image:j1409a00_028_003_001.jpg | 본체에서. 본체 금속 표면과도 닿게 한다.
+
image:flip5g01_038_001.jpg | 독립 접지를 유지하기 위해서 차폐표면을 잘랐다.
image:j1409a00_028_003_002.jpg | 본체 금속도 파면서 닿게 한다.
 
 
</gallery>
 
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
<li> [[HP 35660A]] Dynamic Signal Analyzer, ~100kHz까지이므로, 자체 전원 방사 및 외부 전기장/자기장 차폐가 두껍게 해야 한다.
 
<gallery>
 
image:hp35660a_053.jpg | 통신포트
 
image:hp35660a_054.jpg
 
</gallery>
 
 
</ol>
 
</ol>
<li>띠로 만든 스파이럴(스프링) 가스켓, Spiral EMI Shield Gasket
+
<li>접지판을 세워서
 
<ol>
 
<ol>
<li> [[HP 70001A Mainframe]]
+
<li> [[Fluke 8840A DMM]]에서
<ol>
 
<li>프레임 가스켓
 
 
<gallery>
 
<gallery>
image:e5501b05_030.jpg
+
image:8840_01_008.jpg | [[EMI]] 차폐금속, bend up 90', sheild A/D (=L-shaped shield plate)
image:e5501b05_031.jpg
 
image:e5501b05_032.jpg
 
image:e5501b05_033.jpg
 
image:e5501b05_034.jpg
 
image:e5501b05_035.jpg
 
image:e5501b05_036.jpg
 
image:e5501b05_037.jpg
 
image:e5501b05_038.jpg
 
 
</gallery>
 
</gallery>
</ol>
+
<li> [[HP5334B 주파수계수기]]에서
<li> [[HP 70420A Test Set]]
 
 
<gallery>
 
<gallery>
image:e5501b04_008.jpg
+
image:hp5334b02_019.jpg | Gordos [[리드릴레이]]와 입력포트 사이에 [[EMI]] 차폐판
image:e5501b04_009.jpg
 
image:e5501b04_012.jpg
 
image:e5501b04_013.jpg
 
image:e5501b04_014.jpg
 
 
</gallery>
 
</gallery>
<li> [[8960]] 무선 통신 테스트 세트, Vector Output Board에서
+
<li>차폐를 위해 접지에만 연결된 [[단판 커패시터]]
 +
<ol>
 +
<li> [[Kikusui AVM13 AC전압계]]에서
 
<gallery>
 
<gallery>
image:8960_09_004.jpg | Spiral [[EMI]] Shield Gasket
+
image:avm13_009.jpg
 +
image:avm13_017.jpg
 
</gallery>
 
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
<li>알루미늄 블록을 깍아서
+
<li>커넥터 핀 사이에
 
<ol>
 
<ol>
<li> [[OmniBER]] 광통신용 계측기
+
<li>D-sub 커넥터 female 에 가운데 실드 판
 
<ol>
 
<ol>
<li>차폐시킨 앰프 및 갈바닉 [[부식]]
+
<li> [[HP 70001A Mainframe]]
 
<gallery>
 
<gallery>
image:j1409a00_028_019.jpg
+
image:e5501b05_052.jpg | 가운데 실드
image:j1409a00_028_020.jpg
 
image:j1409a00_028_021.jpg
 
image:j1409a00_028_022.jpg
 
 
</gallery>
 
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
 +
<li>2020.05 출시 [[MS Surface Book 3 노트북]]
 +
<gallery>
 +
image:surface_book3_093_001.jpg | 상하 핀 사이에 넓은 [[EMI]] 차폐용 금속접지판이 있다.
 +
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
</ol>
+
<li> [[HP 70001A Mainframe]], SMPS에서 AC 전원 입력 필터 부위도 이렇게 차폐한다.
<li>도전성 (말랑말랑) 접착제
 
<ol>
 
<li> [[Agilent 85093]] 2port E-Cal
 
 
<gallery>
 
<gallery>
image:85093a_011.jpg | 레이저 천공된 알루미나 기판에 뚜껑이 붙어 있다.
+
image:e5501b05_006.jpg
image:85093a_012.jpg | 뚜껑은 실드용 [[EMI]] 도전성 접착제 가스켓으로 붙어 있다.
+
image:e5501b05_011.jpg
 +
image:e5501b05_020.jpg
 
</gallery>
 
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
<li>도전성 (푹신푹신)스폰지 가스켓
+
<li>부품 위로 지붕을 만들어서
 +
<ol>
 +
<li> [[OmniBER 광통신 분석기]]
 
<ol>
 
<ol>
<li> [[HP 70420A Test Set]]
+
<li>[[마이크로-X]] 패키지에서
 
<gallery>
 
<gallery>
image:e5501b04_011.jpg
+
image:j1409a00_025_036.jpg
image:gasket_elastomer01_001.jpg | 표면
+
image:j1409a00_025_036_001.jpg
image:gasket_elastomer01_002.jpg | 잘린면
 
 
</gallery>
 
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
<li>도전성 탄성물질(elastomer) 가스켓
+
<li> [[Kikusui PCR-500M AC 전원공급기]]
<ol>
 
<li> [[Agilent U9397A]] SPDT RF 스위치
 
 
<gallery>
 
<gallery>
image:u9397a_02_005.jpg
+
image:pcr500m_019.jpg | PCB 동박을 이용하는 차폐 지붕
image:u9397a_02_007.jpg | 도전성 가스켓
+
image:pcr500m_030.jpg
 
</gallery>
 
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
<li>연결
+
<li>알루미늄 블록을 깍아서
 
<ol>
 
<ol>
<li> [[아이트로닉스 ITE-1000]] [[내비게이션]]
+
<li> [[OmniBER 광통신 분석기]]
 
<ol>
 
<ol>
<li>실드 메탈 코팅 저항
+
<li>차폐시킨 앰프 및 갈바닉 [[부식]]
 
<gallery>
 
<gallery>
image:ite1000_01_003.jpg | 베젤을 뜯고, 디스플레이 패널을 들어올리면
+
image:j1409a00_028_019.jpg
image:ite1000_01_007.jpg | 0.5ohm
+
image:j1409a00_028_020.jpg
 +
image:j1409a00_028_021.jpg
 +
image:j1409a00_028_022.jpg
 
</gallery>
 
</gallery>
 
</ol>
 
</ol>
<li>2006년 07월 출시 [[노트북]], [[Compaq nx6320]]
 
<ol>
 
<li>터치패드 주변
 
<gallery>
 
image:compaq_nx6320_017.jpg
 
image:compaq_nx6320_018.jpg
 
image:compaq_nx6320_019.jpg
 
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2026년 3월 2일 (월) 12:10 기준 최신판

EMI

  1. 전자부품
    1. EMI - 이 페이지
    2. 차폐 - 이 페이지
      1. 기술
        1. 차폐 관련 문서
        2. 차폐율 측정
      2. 부품
        1. 실드 깡통
        2. 실드 코팅
          1. RF모듈에서 실드 코팅
        3. 실드 가스켓
          1. 핑거스톡(fingerstock)
          2. 차폐 클립 , 차폐 핑거
          3. 차폐 접착제
        4. 차폐 포일 , 실드 포일
        5. 차폐 테이프 , 실드 테이프
          1. 차폐 직물
          2. 전자파 차단 스티커
          3. 차폐 테이프를 둥글게 말아서 사용
        6. 실드 통풍구
        7. 실드 비아
        8. 전파 흡수체
          1. PIM
      3. 적용되는 곳
        1. 스피커 접지
        2. 카메라 모듈 접지
      4. 측정
        1. 로그 주기 안테나
        2. EMC 니어필드 프루브
        3. 실드 박스
          1. 전자레인지 실드 박스
        4. TEM cell
      5. 집중적으로 분석한 전자기기
        1. 2008.03 출시 삼성 애니콜 햅틱, SCH-W420 피처폰
        2. 2012.06 출시 LG-F160S Optimus LTE2 스마트폰
        3. 2012.11 출시 iPad mini 1세대, WiFi 모델 A1432 태블릿
    3. 참조
      1. 접지
      2. 가드링
      3. 플라스틱에 도금하여
    4. 참조
      1. 차폐전선
      2. PC용 동축케이블
    5. 참조
      1. 자기 차폐
  2. 순수 금속으로
    1. 실드 테이프, 실드 포일
    2. 접지 납땜으로(가장 당연한 방법이므로, 특별한 경우에만 이곳에 기술함.)
      1. BS 튜너용 IF SAW 필터
      2. SAW 듀플렉서, 3.8x3.8mm, Fujitsu FAR-D5CF-881M50-D1F1 기종에서
        1. EMI 차폐를 강화시킨 밑면 접지 패턴
    3. 평면 금속으로(그러므로 큰 효과가 없을 듯)
      1. 마치 가드링과 같이 설계한, 평면 EMI 차폐용 접지
        1. 2.5인치HDD, Hitachi, IC25N080ATMR04-0, 4200rpm, 80GB, ATA/IDE, 2003-04-28 제조품에서
      2. SAW 듀플렉서, CDMA용 850MHz SAWTEK 856331에서
    4. shielded connector hoods
      1. D-sub 커넥터
        1. TIRAtest UTM용 로드셀
    5. 접지 기둥을 수직으로 세워서
      1. HP 8753E 네트워크분석기
      2. 2020.09 출시 삼성 갤럭시 Z 플립 5G, SM-F707N 스마트폰
        1. RF모듈에서 실드 코팅된 부품 11개 중에서
    6. 접지판을 세워서
      1. Fluke 8840A DMM에서
      2. HP5334B 주파수계수기에서
      3. 차폐를 위해 접지에만 연결된 단판 커패시터
        1. Kikusui AVM13 AC전압계에서
      4. 커넥터 핀 사이에
        1. D-sub 커넥터 female 에 가운데 실드 판
          1. HP 70001A Mainframe
        2. 2020.05 출시 MS Surface Book 3 노트북
      5. HP 70001A Mainframe, SMPS에서 AC 전원 입력 필터 부위도 이렇게 차폐한다.
    7. 부품 위로 지붕을 만들어서
      1. OmniBER 광통신 분석기
        1. 마이크로-X 패키지에서
      2. Kikusui PCR-500M AC 전원공급기
    8. 알루미늄 블록을 깍아서
      1. OmniBER 광통신 분석기
        1. 차폐시킨 앰프 및 갈바닉 부식